英伟达与Menlo Micro宣布,双方借助这家初创公司的技术,大幅提升了人工智能(AI)芯片的测试速度,为芯片生产过程中的一大关键瓶颈提供了缓解方案。
英伟达已售出数百万颗 AI 芯片,每一颗芯片在出厂前都必须经过测试 —— 测试流程需将芯片置于专用电路板上,通过检测判断其是否达到速度、功能等设计指标。然而,尽管 AI 芯片本身属于尖端技术,但用于测试它们的电路板中,许多芯片的技术已距今数十年。这使得 AI 芯片的测试工作面临巨大挑战 —— 这类芯片不仅功耗极高,其数据传输速度也处于行业顶尖水平。
为解决这一瓶颈,英伟达与门洛微电子展开了合作。门洛微电子是 2016 年从通用电气(GE)分拆成立的初创公司,已从康宁公司(Corning)及 iPhone 联合创始人托尼・法德尔(Tony Fadell)旗下的风险投资基金获得 2.275 亿美元融资。双方合作的成果是一系列开关芯片,这些芯片可显著提升测试电路板的性能。
门洛微电子的芯片采用金属材质制造开关,其原理类似墙上的电灯开关,但通过 “微机电系统”(micro-electromechanical systems,简称 MEMS)领域的技术,将开关尺寸缩小至微芯片级别。
在研究报告中,两家公司的工程师表示,根据测试类型的不同,英伟达图形处理器(GPU)的测试速度可提升 30% 至 90%。
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