李湛明:750V GaN将率先替代IGBT,全GaN IC技术破解可靠性难题

来源:CIC集成电路发布时间:2026-07-15 11:45
氮化镓
技术进展
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李湛明
苏州量芯微电子有限公司董事长
依托自主大电流GaN单芯片技术,加快完成车规级可靠性认证,全面推动750V GaN在400V新能源汽车平台中逐步替代传统IGBT。

随着800V高压平台的加速落地,汽车对高效、高功率密度功率器件的需求持续攀升。在第三代半导体领域,氮化镓(GaN)凭借其在消费电子快充领域的规模化应用早已声名鹊起,然而在严苛的车规级功率电子版图中,GaN的渗透才刚刚拉开序幕。

如何在保证车规级极高可靠性的同时,突破GaN在大电流、高电压领域的先天瓶颈?近日,记者有幸采访了苏州量芯微电子有限公司(以下简称“量芯微”)董事长、总经理及首席技术官李湛明博士,深度解析量芯微如何以独特的“全GaN集成电路”与“先进封装”协同策略,打通GaN“大规模上车”的最后一公里。

筑基:效率与小型化,增强型GaN的差异化价值

GaN在新能源汽车的功率版图中的定位,李湛明博士表示:“未来汽车功率电子领域,GaN(尤其是增强型E-mode GaN)将发挥越来越重要的核心作用。”

长期以来,行业内对GaN与SiC、IGBT等器件的定位多有讨论。李湛明指出,与耗尽型(D-mode)GaN、SiC、超结MOSFET以及传统IGBT相比,增强型GaN在当前拥有最优秀的功率开关性能指标(Power Switching Figure of Merit)。这种绝佳的物理特性赋予了它支持更高开关频率的能力,进而能实现极高效率的电能转换。

李湛明解释道,对于驱动逆变器而言,更高的开关频率不仅能显著降低系统开关损耗,更能支持更多极对数(multi-pole)的电机设计,大幅提升电机的转矩密度(Torque Density)。“最终,它将直接推动驱动电机向小型化和轻量化演进,这也是GaN赋能未来新能源汽车的核心价值所在。”

破局:自研“全GaN集成”,化解可靠性硬伤

尽管性能优势瞩目,但车规级应用对安全与可靠性有着近乎严苛的指标,这也是GaN长期未能大规模上车的关键困难之一。

传统增强型GaN的开启电压通常只有约1.5V,栅极驱动范围仅为6V。在汽车驱动逆变器这类高噪声、高可靠性系统中,微小的电压波动就可能引发误导通或误关断,带来致命的系统风险。

针对这一行业通病,量芯微的核心技术路线展现了极强的创新前瞻性。“我们的策略是通过全GaN集成电路(All-GaN IC)技术,解决系统兼容性与可靠性问题。”李湛明介绍道。

量芯微自主研发了全GaN栅极稳压集成电路,通过单片GaN集成(Monolithic Integration)的方式,成功将器件的开启电压提升至约3.8V,并将栅极驱动能力扩展到20V。

这一突破,让GaN器件能够高度兼容现有的IGBT和SiC系统。更重要的是,由于采用单片集成,整个过程完全不牺牲GaN本身优异的高速开关性能。在保证抗干扰能力的同时,实现了更高的系统效率和功率密度,在电气性能与封装结构上均具备颠覆性优势。

跃迁:逐步跨越“高压”与“大电流”的挑战

在李湛明看来,高压大电流是GaN从实验室走向量产上车两个最为突出的瓶颈。

高压

高压方面,主流增强型GaN多采用GaN-on-Si工艺,硅衬底在高电压下容易击穿;若换用蓝宝石等绝缘衬底,虽然能改善击穿,却又容易引发横向电场分布导致的动态导通电阻增加,即所谓的电流崩塌问题。

李湛明透露,量芯微通过多项自主专利技术,包括前述的全GaN集成电路技术,成功在GaN-on-Si平台上实现了高击穿电压与稳定动态导通电阻的得兼。

大电流

大电流方面,新能源汽车驱动逆变器动辄需要数百安培的大电流单芯片,而GaN-on-Si、GaN-on-Sapphire及GaN-on-AlN等衬底方案都容易受到材料机械缺陷的制约,难以制造超大电流单芯片,这也导致GaN长期以来主要局限于消费电子等小电流应用场景。

量芯微的突破路径是将芯片设计与先进封装进行协同优化。据李湛明透露,公司已在消费级GaN晶圆基础上成功实现超过500A的大电流单芯片,且保持接近100%的晶圆良率。“这一高良率不仅降低了制造成本,也为后续实施更加严格的车规级筛选和可靠性验证提供了充分空间。”

前瞻:先替IGBT、后逐SiC,开启两阶段战略规整

随着技术的突破和成本的下探,GaN与SiC、IGBT之间的竞争边界正在悄然发生位移。

李湛明博士分享了对中长期市场格局的敏锐洞察:“几年前,业内普遍认为GaN成本太高,无法替代IGBT。但近年来中国650V GaN产业竞争加剧,其价格已逐渐逼近同等电流等级的IGBT。成本的快速下降让一个新趋势正在发生:未来750V GaN率先替代IGBT的速度,将明显快于1200V GaN替代SiC的速度。”对于1200V应用场景,李湛明坦言,GaN最大的挑战仍然是高温长期可靠性

面对这一历史性窗口期,量芯微已经制定了清晰的“两步走”战略规划:

短期推进

依托自主大电流GaN单芯片技术,加快完成车规级可靠性认证,全面推动750V GaN在400V新能源汽车平台中逐步替代传统IGBT。

中长期深耕

持续攻坚1200V GaN-on-Si技术,开发具有优异高温长期可靠性的500A级单芯片产品,在1200V新能源汽车及工业电力电子市场逐步扩大份额。

结语

在采访的尾声,作为深耕第三代半导体多年的行业专家,李湛明博士对中国GaN产业的当下与未来进行了总结。他认为,中国GaN产业已经正式步入产业化的快速发展期。

李湛明表示,短期内,随着750V增强型GaN器件可靠性的持续成熟,真正需要突破的瓶颈将逐渐从器件本身转向“系统级应用”。长期来看,1200V GaN仍需在高温长期可靠性等关键技术上取得突破,届时将真正步入与SiC正面竞争的新阶段。而眼前,量芯微正在用全GaN集成电路技术和超大电流单芯片方案,为GaN争取一张“大规模上车”的入场券。

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