
近年来,半导体行业发展迅猛,尤其是在高性能计算、人工智能和高端汽车系统的需求持续增长的背景下。传统的单裸片芯片设计往往已无法满足现代设计对PPA的要求。因此,工程师们转向了多裸片架构,即将多个较小的裸片集成在同一个封装内。这种方案虽然提升了可扩展性与性能,但也带来了新的挑战,尤其是在互联规划方面。多裸片集成中最关键的环节之一,就是对实现裸片间通信的凸点(Bump)与硅通孔(TSV)进行高效规划。
在多裸片设计中,芯片间的互联通过布置在裸片表面的微凸点或混合键合焊盘实现。这些凸点充当裸片、中介层或基板之间的电气连接点。现代设计可能需要数十万甚至上百万个此类连接。随着裸片数量与互联数量的增加,规划和管理这些连接的复杂度也急剧上升。根据相关白皮书,不合理的凸点规划会对可布线性、布线质量以及整体设计效率产生负面影响。
传统上,凸点规划依靠电子表格、绘图软件等简易图形化工具人工完成。这种方式在早期仅有数千个连接的单裸片倒装芯片设计中可行,但对于如今的大规模多裸片系统已不再适用。人工规划耗时极长,且极易出现人为失误。此外,某一个裸片的凸点布局一旦修改,往往需要同步调整其他裸片或封装设计。如果这些更新不能正确同步,就可能在开发周期的后期引发严重的设计错误。
为应对这些挑战,现代EDA 工具提供了自动化凸点规划功能。设计人员可以定义凸点区域 —— 即在裸片上放置凸点的矩形或不规则区域。在每个区域内,凸点可按照节距、间距、对齐等约束条件形成特定阵列。这些阵列规则确定后,软件即可快速、准确地自动生成成千上万个凸点。一旦区域尺寸或设计约束发生变化,凸点布局会自动更新,为设计人员节省大量时间与精力。
凸点规划的另一个关键环节是信号分配。每个凸点都必须连接到特定的信号、电源或地网络。设计人员既可以手动分配信号,也可以利用自动化算法,根据线长、布线效率等因素优化布局。自动信号分配能够分析整个多裸片系统,确定信号到凸点的最优映射关系,从而提升整体性能、降低设计复杂度。
除凸点规划外,设计人员还必须精心规划硅通孔(TSV)。TSV 是穿过硅裸片的垂直电气通道,可让信号与电源从裸片背面传输至正面布线层。在多个裸片垂直堆叠的 3D 堆叠芯片设计中,TSV 尤为重要。但 TSV 本身尺寸相对较大,需要预留充足的间距与禁布区,以免损伤周边电路。不合理的 TSV 布局会压缩逻辑单元的可用面积,并对时序性能造成不利影响。因此,必须进行细致规划,在不影响芯片功能的前提下实现 TSV 的最优布局。
现代设计平台将凸点规划与TSV 规划整合到统一工作流中。工程师可以在二维与三维视图中直观查看互联关系、追踪工程变更,并执行自动化设计规则检查。通过在设计早期就发现对齐错误、连接缺失或信号不匹配等问题,这些工具能够避免后期制造阶段出现代价高昂的失误。
高效的凸点与 TSV 规划对多裸片半导体设计的成功至关重要。随着芯片架构日趋复杂,人工规划方式已难以胜任。自动化设计工具与结构化规划方法,让工程师能够管理数百万个连接、保证设计精度、加快产品上市速度。随着人工智能、高性能计算等前沿技术的持续发展,高效的互联规划仍将是现代半导体设计的核心需求。
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