SK海力士:2027年实现混合键合NAND的大规模生产

来源:半导体产业纵横发布时间:2025-12-08 17:49
SK海力士
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在2026年完成首款混合键合300多层V10芯片的研发。

据报道,SK海力士正通过采用混合键合技术推进其NAND闪存技术的发展。据韩京新闻报道,该公司正在开发采用该工艺的300层NAND闪存,加入三星电子、中国长江存储和日本铠侠等其他领先制造商的行列,共同迈向混合键合技术的全面部署。

报告引用的消息来源表明,SK海力士正在研发其第十代(V10)NAND闪存,该闪存采用300层结构,目标是在明年完成试生产,然后在后年年初投入全面生产。

混合键合成为SK海力士V10 NAND的关键转变

正如报告指出的那样,V10 的突出特点是 SK 海力士首次采用混合键合技术,该工艺将两个半导体晶圆连接起来,使它们作为一个整体发挥作用。

在V9(321层)版本之前,SK海力士在单个晶圆上同时制造了存储单元阵列和外围电路。正如报告所述,在PUC(Peri-under-Cell,单元下外围电路)方案下,外围电路位于晶圆底部,存储层则直接堆叠在其上方。

然而,这种配置会使外围电路面临更大的风险。报告指出,混合键合可以缓解这个问题,甚至可以缩短生产时间,因为外围电路和单元晶圆是分开制造的。

同时,该报告还指出,混合键合增加了工艺的复杂性,而晶圆对晶圆集成所需的混合键合工具主要由奥地利的EVG和日本的东京电子提供。

全球NAND闪存制造商加速混合键合技术转型

混合键合是一种结合介电层键合和金属直接键合的先进封装技术,其核心目标是实现芯片间高密度、低电阻的垂直互联。

在工艺过程中,需要经过对准和键合、后键合处理等几个流程。在对晶圆表面进行化学机械拋光(CMP)和清洗之后,通过光学或电子束对准系统实现亚微米级(通常<200nm)的芯片间精准对齐,尤其在芯片到晶圆(D2W)键合中,对准误差需接近零。

键合的方式有晶圆到晶圆W2W和芯片到晶圆D2W两种,在键合过程中,铜触点与介电层(如SiO₂)同时接触,通过热压或<400°C的低温退火实现金属-金属和介电层-介电层的同步键合。

在键合后,还需要通过CMP工艺调整铜层高度,确保铜触点略微凹陷于介电层表面(通常为50-100nm),以避免短路并提升键合强度;同时键合过程中产生的热量需通过散热结构(如嵌入式热沉)快速导出,防止局部热应力导致晶圆变形。

尽管业内人士预期 SK 海力士会在 400 层以上采用混合键合技术,但该报告指出,由于竞争对手更快地实现了商业化,该公司目前在 300 层 V10 阶段就应用了该技术。

例如,报告指出,日本铠侠(Kioxia)在2023年通过其CBA(CMOS直接键合阵列)架构采用了混合键合技术,而三星电子计划在其即将推出的V10设备(约400层)中引入该技术,该设备预计很快就会进入量产阶段。

SK海力士提高固态硬盘产能以应对激增的需求

与此同时,该报告还指出,SK海力士明年将继续投资V10芯片的研发以及现有设备的改造,以扩大V9芯片的产能。报告援引一位业内人士的话称,尽管SK海力士在今年上半年仍在积累NAND闪存库存,但企业级固态硬盘需求的增长已使其晶圆厂接近满负荷运转。

报告还指出,SK海力士目前量产的堆叠层数最高的NAND闪存是321层的V9,这巩固了该公司在全球NAND市场排名第二的地位。

韩国缺乏HBM混合键合核心专利

不过,也有韩国知识产权促进研究所(KIPRO)的一项研究指出,尽管韩国公司在高带宽内存(HBM)的制造和堆叠技术上拥有卓越的技术实力,但在核心技术和专利方面却高度依赖外国公司。

KIPRO研究员Kim In-soo在接受采访时表示,韩国企业在HBM原材料和设备方面过于依赖外国公司,且缺乏与HBM相关的核心专利,这可能导致未来面临专利诉讼的风险。

根据KIPRO的分析,台积电和美国公司Adeia在混合键合技术领域处于领先地位。

Kim In-soo透露,KIPRO利用人工智能技术,对2003年至2022年间在韩国、美国、日本、欧洲和中国公开的超过1万项相关专利进行了审查。

在专利的质量和市场价值方面,Adeia拥有最具价值的专利。Adeia拥有从Ziptronix公司收购的直接键合互连和低温直接键合技术的核心专利。Kim In-soo指出,Adeia通过其附属公司Invensas和Tessera,已经收购了一系列混合键合专利。

台积电则在K-PEG评级中拥有最多A3级以上的高质量专利,位居首位。三星紧随其后,其次是美光和IBM。台积电的系统集成芯片(SoIC)技术尤为宝贵。此外,中国在这一领域也展现出快速增长的态势,中企获得了多项核心专利。

这些专利在韩国、美国、日本、欧洲和中国均有注册,意味着相关公司随时可能卷入专利诉讼。尽管韩国拥有第二多的HBM相关专利,但其质量和影响力却“低于平均水平”。

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